Agilent4287A射頻測試儀
Agilent4287A射頻測試儀LCR在1MHz～3GHz頻率范圍可以提供**，可靠和快速測量，以改進(jìn)生產(chǎn)線上對電子元件進(jìn)行測試的質(zhì)量和生產(chǎn)率。與反向測量技術(shù)不同，采用直流電壓測量技術(shù)能在大的阻抗范圍進(jìn)行**測量。
生產(chǎn)率高，質(zhì)量可靠
4287A適于在射頻范圍對電子元器件進(jìn)行測試。4287A的測量非常快。此外，在小測試電流(100μA)優(yōu)良的測試重復(fù)性還可以顯著提高生產(chǎn)率，因為所需的取平均過程非常短。
系統(tǒng)組建簡單
測試頭電纜(1m或利用延伸電纜時為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測件點(diǎn)測件接點(diǎn)附近，而不會使誤差有任何增大。內(nèi)置比較器功能，高速GPIB處理器接口可用來簡化與元件固定裝置和PC機(jī)的組合。增強(qiáng)的比較器功能可以使復(fù)雜的倉室適用于多頻或陣列芯片測試。
便于使用
8.4英寸彩色顯示器能清楚觀察測量設(shè)置和結(jié)果。新研制的用戶接口使操作過程更為方便且無差錯。內(nèi)置統(tǒng)計分析功能可以提供監(jiān)視測試質(zhì)量和效率的過程。可選用的LAN接口有助于統(tǒng)一進(jìn)行生產(chǎn)監(jiān)控。此外，若干APC-7 SMD測量夾具可以與4287所提供的夾具架和APC-3.5轉(zhuǎn)APC-7適配器聯(lián)用，從而無需制作專用夾具。
技術(shù)指標(biāo)
（**的技術(shù)指標(biāo)參見數(shù)據(jù)資料表）
測量參數(shù)：|Z|,|Y|,θ-z（度/弧度）θ-y（度/弧度），G,B,Ls,Lp,Cs,Cp,Rs,Rp,Q,D（可同時顯示4種測量參數(shù)）。
測試頻率：1MHz～3GHz
頻率分辨力：100KHz
測試信號：V:4.47mV～502mV(f≤1GHz）; 4.47mV～447mv(f>1GHz)
I:0.0894mA～10mA(f≤1GHz);0.0894mA～8.94mA(f>1GHz)
電平監(jiān)視功能：電壓，電流
基本的Z精度：±1.0%
測量范圍：200mΩ～3kΩ(1MHz下，精度≤10%)
測量時間：每點(diǎn)9ms（*高速）
Rdc測量：可用于觸點(diǎn)檢查
校準(zhǔn)：開路/短路/負(fù)載/低損耗電容量
補(bǔ)償：開路/短路,電長度
大容量存儲功能：30MB固態(tài)大容量存儲或2GB硬盤（選擇選件）
接口：GPIB,:LAN(10Base-T/100Base-Tx自動選擇)，處理器接口
顯示：8.4英寸彩色LCD顯示器
一般指標(biāo)
電源要求：90V～132V,或198V～264V,47Hz～63Hz,350VAmax
工作溫度/濕度:5℃～40℃,相對濕度20%～80%
尺寸：234mm高×425寬×445mm深（主機(jī)）
重量：16kg/0.3kg（典型值）（主機(jī)/測試頭）
主要技術(shù)資料
4287A射頻LCR測試儀產(chǎn)品介紹，p/n 5968-5443E
4287A技術(shù)指標(biāo)：p/n 5968-5758E
LCR測試儀，阻抗分析儀和測試夾具選購指南，p/n 5952-1430E
訂貨信息
4287A射頻LCR測試儀
供應(yīng)的附件：測試頭（1m），3.5～7mm適配器，16195B APC-7校準(zhǔn)配件，鼠標(biāo)器，鍵盤，操作手冊和電源線（4287A不提供測試夾具）
選件001 刪去16195B校準(zhǔn)工具箱
選件002 刪去測試夾具座
選件003 刪去3.5mm～7mm適配器
選件004 增加工作標(biāo)準(zhǔn)套件
選件010 硬盤驅(qū)動大容量存儲器
選件011 固態(tài)大容量存儲器
選件020 增加電纜延伸套件
可提供的附件
16190B性能測試配件
16195B校準(zhǔn)工具箱
16191A側(cè)面電極夾具
16192A平行電極夾具
16193A小側(cè)面電極夾具
16194A高溫測試夾具
16196A用于1608(mm)的平行電極SMD夾具
16196B用于1005(mm)的平行電極SMD夾具
16196C用于0603(mm)的平行電極SMD夾具
16197A底面電極夾具